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高精度激光掃描顯微鏡-NESSIE是美國密歇根大學衍生公司MONSTR Sense Technologies潛心研制。開創(chuàng)性的設計使其外形小巧，組件靈活，可適配不同高度的樣品臺甚至是低溫光學恒溫器，實現低溫顯微成像。顯微鏡可處理波長范圍廣，快速光柵式掃描可以在幾秒時間內獲得一個高光譜圖像。

全共線多功能超快光譜儀-BIGFOOT是美國密歇根大學衍生公司MONSTR Sense Technologies經過多年潛心研制的一款全新超快光譜儀，采用突破性技術，真正實現了一套設備、一束激光、多種功能。它不僅兼具共振和非共振超快光譜探測，還可以兼容瞬態(tài)吸收光譜、相干拉曼光譜、多維相干光譜探測。

s-Laue是日本Pulstec公司近期發(fā)布的一款基于圓形全二維面探測器技術的新一代X射線單晶定向系統(tǒng)。該設備配備六軸樣品臺，具有功率?。?0KV/1.5mA,因此輻射?。?、操作簡單、測試效率高（典型測試時間為60秒）等特點，可提供臺式、便攜式(即將發(fā)布，敬請期待)兩種類型設備，既可滿足實驗室對小樣品進行單晶定向的需求，也可以用于大型零件的現場晶體定向。

2022年10月，美國Quantum Design公司重磅推出AFM/SEM二合一顯微鏡-FusionScope，將SEM和AFM技術融合在一臺設備上。用戶不需要將樣品從一臺顯微鏡移動到另一臺顯微鏡，也不必使用兩個不同的操作系統(tǒng)來分析樣品上的同一位置，而是在同一用戶界面內、同一位置進行互補性綜合測量。

新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實驗室材料表征研究推向一個新高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規(guī)成像應用中十分實用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節(jié)豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節(jié)水平的圖像。

X射線是表面殘余應力測定技術中為數不多的無損檢測法之，是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應力分析和檢測方法之，被廣泛的應用于科學研究和工業(yè)生產的各域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術的殘余應力分析儀——μ-X360n，將用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了個全新的高度，設備推出不久便得到業(yè)界好評